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渡層厚度檢測儀

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更新時間:2025-03-13 16:49:30瀏覽次數:28

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產品簡介

渡層厚度檢測儀 - Ux-720?一、渡層厚度檢測儀Ux-720描述:Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測J 儀,采用高分辨率的Si-PIN (或者SDD硅漂移探測器) ,測量精度和測量結果良好.采用了FlexFP-Multi技術,無論是生產過程中的質量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢租金檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。二、渡層厚度檢測儀Ux-720特性:Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配,旋鈕調節設計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便.

詳細介紹


渡層厚度檢測儀 - Ux-720


一、渡層厚度檢測儀Ux-720描述:

Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測J 儀,采用高分辨率的Si-PIN (或者SDD硅漂移探測器) ,測量精度和測量結果良好.采用了FlexFP-Multi技術,無論是生產過程中的質量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢租金檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。|代表E氧分析儀|進口氧分析儀品牌|微量氧分析儀|價格|批發|廠家|Teledyne氧分析儀|AII氧分析儀|Southland氧分析儀|AMS氧分析儀|Ntron氧分析儀|恩特龍氧分析儀|AOI氧分析儀|ADV氧分析儀|AST氧傳感器|仕富梅氧分析儀|Neutonics氧分析儀|HiTech氧分析儀|西門子氧分析儀|富士氧分析儀|Zirox氧分析儀處|辦事處|子公司|分公司|總代理|代理商|北京辦|上海辦|廣州辦|中國分析儀

二、渡層厚度檢測儀Ux-720特性:
Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配,旋鈕調節設計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便.

X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產晶的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業中晶質的提升高了檢驗的保障.

Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯*新**技術FlexFp -Multi .不在受標準樣昂的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣昂的鍍層厚度,測試結果經得起科學驗證。

三、渡層厚度檢測儀Ux-720產品指標:
測厚技術X射線熒光測厚技術
測試樣晶種類金屬鍍層,合金鍍層
測量下限0.003um
測量上限。30-50um (以材料元素判定)
測量層數。10層
測量用時30-120秒
探測器類型Si-PIN 電制冷
探測器分辨率145eV
高壓范圍: 0-50KV , 50W
X光筐參數: 0-50KV , 50W ,側窗類;
光管靶材:Mo靶;
慮光片專用3種自動切換,
CCD觀察260萬像素
微移動范圍: XY15mm
輸入電壓AC220V , 50/60Hz
測試環境。非真空條件
數據通訊USB2 . 0模式
準直器:1mm ,2mm ,4mm
軟件方法:FlexFP-M u Iti
工作區開放:工作區自定義

樣品腔:330x360x100mm

其他產品:微量氧分析儀,藥品殘氧儀,露點儀,熱導氣體分析儀,GE流量計,OX-1氧傳感器,頂空分析儀,紅外氣體分析儀,高溫濕度儀,西門子U23分析儀,ppb微量水分析儀,OXY.IQ氧分析儀,煙氣濕度儀,燃氣熱值儀,Kaye溫度驗證儀,L&W白度,儀激光氧分析儀,壓縮空氣露點儀,干燥機露點儀,激光氣體分析儀,便攜式露點儀,便攜式微量氧分析

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